「iPhone Duo」の画面ひび割れ問題の要因とされるヒンジの損傷は不良部品が原因か——影響を受けるデバイスは特定可能との見方
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「iPhone Duo」の発売直後から画面ひび割れ問題がごく一部のユーザーから報告され、Appleもごく一部で発生していることを認める形となりましたが、そのひび割れ問題の要因とみられるヒンジの問題の原因が概ね判明したとの情報が中国から出て来ました。
画面ひび割れ問題はヒンジの破損が原因とみられていますが、中国のテック系の関係者とされるKang氏によると、ヒンジの問題はAppleの2つのヒンジサプライヤーのうちの1社から供給された不良部品によるもので、ヒンジの設計上の問題ではないとのこと。
また、Appleはシリアル番号を通じて影響を受ける可能性があるデバイスを特定することができるそうです。
今後、交換プログラムのようなものが提供されるのかはまだ不明ですが、今後出荷される製品は既に対策が取られているものと予想される他、問題発生はごく一部と言われていることから、交換プログラムのような大規模な対応は実施せずに問題が起きたデバイスのみ交換対応といった形で終息する可能性の方が高いかもしれません。
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